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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 冷熱沖擊試驗(yàn)箱多久除霜一次？一、引言冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種廣泛應(yīng)用于材料測(cè)試、電子元件可靠性評(píng)估等眾多領(lǐng)域的重要設(shè)備。在其運(yùn)行過(guò)程中，結(jié)霜現(xiàn)象是一個(gè)不可忽視的問(wèn)題。除霜頻率的合理確定，不僅關(guān)系到試驗(yàn)箱的正常運(yùn)行，還會(huì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生深遠(yuǎn)...
HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱在哪些領(lǐng)域有應(yīng)用？1、電子元器件行業(yè)半導(dǎo)體制造：半導(dǎo)體芯片是現(xiàn)代電子設(shè)備的核心部件，對(duì)環(huán)境的微小變化極為敏感。HAST試驗(yàn)箱可以模擬芯片在極-端環(huán)境下的工作狀態(tài)。例如，在高溫（可達(dá)100-150℃）、高濕（85%-...
HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱的工作原理HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱的工作原理如下：一、環(huán)境營(yíng)造高溫產(chǎn)生HAST試驗(yàn)箱內(nèi)部配備有加熱系統(tǒng)。通過(guò)電加熱元件，將箱內(nèi)的溫度升高到設(shè)定值。通常溫度可以達(dá)到100-150℃甚至更高，這取決于具體的試驗(yàn)需求。精確...
HAST與PCT之間的區(qū)別HAST（HighlyAcceleratedStressTest，高加速應(yīng)力試驗(yàn)）和PCT（PressureCookerTest，高壓鍋試驗(yàn)）是兩種常見(jiàn)的可靠性測(cè)試方法，它們存在以下區(qū)別：一、試驗(yàn)原理HASTHAS...
對(duì)于印制電路板來(lái)說(shuō)，冷熱沖擊試驗(yàn)箱起到哪些作用？對(duì)于印制電路板，冷熱沖擊試驗(yàn)箱有以下重要作用：一、評(píng)估可靠性焊點(diǎn)可靠性檢測(cè)印制電路板上有大量的焊點(diǎn)，在實(shí)際使用過(guò)程中，會(huì)面臨不同的溫度環(huán)境。冷熱沖擊試驗(yàn)箱能夠模擬從極冷到極熱的快速溫度變化。例...
高溫試驗(yàn)箱與真空高溫試驗(yàn)箱的區(qū)別解析高溫試驗(yàn)箱與真空高溫試驗(yàn)箱在多個(gè)方面存在區(qū)別：工作原理：高溫試驗(yàn)箱：主要通過(guò)加熱器將空氣或其他介質(zhì)加熱到一定溫度，并通過(guò)循環(huán)使其流通，從而使試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度得到控制。在試驗(yàn)過(guò)程中，測(cè)試物品處于正常氣壓的高溫...
紫外加速老化試驗(yàn)箱340nm光源能否達(dá)到1.5W/㎡？若需更高強(qiáng)度應(yīng)選何種設(shè)備？一、紫外加速老化試驗(yàn)箱340nm光源強(qiáng)度分析（一）紫外加速老化試驗(yàn)箱340nm光源的典型強(qiáng)度一般情況大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)配置的紫外加速老化試驗(yàn)箱，其340nm光源的輻照強(qiáng)...
防塵試驗(yàn)箱耐塵能力的確定方法防塵試驗(yàn)箱耐塵能力的確定方法如下：一、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)國(guó)際與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)防塵試驗(yàn)箱的耐塵能力確定首先要依據(jù)相關(guān)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。例如，國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）制定的一系列標(biāo)準(zhǔn)中，對(duì)電子電氣設(shè)備在灰塵環(huán)境下的測(cè)試方法有...
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